Excipolar Magnon 掃描光電流成像系統
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高精度、高靈敏、多場景

　　完全自主研發的一體化的顯微光電流測試系統 ，由高穩定性顯微系統、高精度振鏡掃描系統、高精度電學測試系統等組成 ，可實現自動化的光電流/電壓曲線和二維mapping 測試。本系統可使用紫外-可見-近紅外光源 ，包括激光器、氙燈、LED等、通過自由空間光路優化，聚焦于樣品表面實現高空間分辨率。優化的信號收集系統極大的提升了信噪比和靈敏度。眾多的配置選項，可與本公司的共焦顯微拉曼、 熒光光譜系統等結合實現聯合光譜測試。開放的測試環境，可搭建多維光譜測試平臺。可匹配高溫/低溫（高溫臺或低溫恒溫器）、磁場環境（超導磁體）、電場環境(探針臺)、拉伸/壓縮原位環境（拉伸臺）等各種環境下的光譜測試，原位獲得樣品的多維度信息。

光電聯合測量與光電流系統結構示意圖

　　? 納米級逐點掃描模式精確表征片上微納器件的空間光電響應特性。

　　? 全自動掃描，實時空間mapping信號強度顯示。

　　? fA級電流靈敏度，微區可視化定點I-V特征曲線、樣品低溫配置等功能。

　　? 可配置屏蔽BNC測試盒+前放+鎖相/源表的弱光電流信號提取測試技術。

　　? 太陽能電池，光芯片，半導體器件，LED等復雜器件的失效分析和微區缺陷參數測試及其性能優化。例如光生電流分布分析：檢測太陽能電池（如硅基、鈣鈦礦、有機半導體電池）的光生電流不均勻性，識別效率損失區域（如缺陷、晶界或成分不均）；量子效率與電阻分布：結合鎖相放大技術，量化微區量子效率差異，分析器件電阻對電流收集的影響，為結構設計提供依據。

　　? 二維材料、納米線、納米帶等低維材料可視化光電響應的高精度表征。例如研究二維材料層間范德華力對載流子遷移率的影響，探測光電流各向異性分布；可視化材料異質結內建電場分布，識別界面勢壘、晶界缺陷或摻雜不均勻區域。

二維材料應變異質結的光電流掃描mapping