Excipolar SHG二次諧波偏振成像顯微鏡
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　　Excipolar SHG以飛秒/皮秒激發配合保偏共焦成像鏈路，結合分色/濾色與高靈敏探測，實現樣品二階非線性極化率χ(2)的成像與定量表征。系統集成自動化偏振控制與功率/響應標定，在提升收集效率、抑制基頻背景的同時降低儀器誤差；可一鍵完成晶體對稱性與主軸判定、疇/各向異性映射、層數識別以及應力與取向分析，并與拉曼/PL共軸聯用，將成像、光譜與偏振測量整合為一站式流程。

SHG方案示意圖

　　? 保偏共焦光路：激發—收集全鏈路保持偏振態，適配偏振依賴的SHG測量。

　　? 成像×光譜聯動：同一視場內SHG顯微與光譜一鍵切換；框選區域即可自動采譜與統計。

　　? 自動化偏振分析：電動起偏/檢偏與波片掃描，生成偏振玫瑰圖與P-SHG曲線，支持χ(2)張量與點群擬合。

　　? 強度/響應雙標定：功率歸一與儀器響應校正并行，降低系統誤差，保證不同批次/樣品間可比性。

　　? 多幾何測量：反射、透射與表面-SHG自由切換，支持角分辨與Z-掃描獲取相位匹配與界面信息。

　　? 共軸聯用：與Raman/PL共軸，光路無需重調，圖譜互證，形成一站式表征流程。

　　? 高效分色與濾光：強抑基頻、優先透過二次諧波，顯著提升信噪比與弱信號可見度。

　　? 預覽與對位友好：相機通道實時預覽、微區對位與大視野拼接；兼容二維材料轉移/表征平臺。

　　? 流程化軟件：一鍵測量、批處理與報告導出，內置腳本接口，便于自動化與二次開發。

　　? 安全與擴展：功率聯鎖與低劑量工作流確保樣品安全；可選THG/EFISHG、溫控、電場/應力加載等模塊即插即用。

　　? 二維材料：層數與對稱性判定、晶軸與扭角測量、疇結構與應力-取向映射

　　? 鐵電/壓電器件：疇結構與反轉邊界成像；外加電場下的原位SHG變化

　　? 半導體/光子器件：LN/GaN/AlN等晶體取向與界面質量評估

　　? 表面與界面：吸附/功能化/氧化過程的原位S-SHG動態監測

　　? 生物與軟物質：膠原等無需染色的結構成像與各向異性分析

CdSe在1550nm激發下的SHG強度圖