什么是掃描電子顯微鏡（SEM）？
掃描電子顯微鏡（SEM）能以超30萬倍放大和立體成像，揭示材料的微觀形貌與成分。法醫(yī)曾用它分析金屬碎屑，為案件定罪。本文從工作原理、核心組件到樣品準(zhǔn)備，系統(tǒng)解析SEM如何成為科研與工業(yè)的必備工具。
什么是角分辨偏振拉曼光譜？
角分辨偏振拉曼光譜（ARPR）是一種通過連續(xù)采集樣品旋轉(zhuǎn)時(shí)拉曼峰強(qiáng)度隨角度變化，定量解析晶體對稱性、晶軸方向和層間扭轉(zhuǎn)角的先進(jìn)表征技術(shù)。它突破傳統(tǒng)偏振拉曼僅能獲取離散數(shù)據(jù)點(diǎn)的局限，適用于黑磷、二維異質(zhì)結(jié)等各向異性材料，實(shí)現(xiàn)無損、高精度晶向標(biāo)定與扭轉(zhuǎn)角測量，推動(dòng)拉曼從定性指紋識(shí)別升級(jí)為定量張量分析手段。
