什么是掃描電子顯微鏡（SEM）？
掃描電子顯微鏡（SEM）能以超30萬倍放大和立體成像，揭示材料的微觀形貌與成分。法醫曾用它分析金屬碎屑，為案件定罪。本文從工作原理、核心組件到樣品準備，系統解析SEM如何成為科研與工業的必備工具。
什么是角分辨偏振拉曼光譜？
角分辨偏振拉曼光譜（ARPR）是一種通過連續采集樣品旋轉時拉曼峰強度隨角度變化，定量解析晶體對稱性、晶軸方向和層間扭轉角的先進表征技術。它突破傳統偏振拉曼僅能獲取離散數據點的局限，適用于黑磷、二維異質結等各向異性材料，實現無損、高精度晶向標定與扭轉角測量，推動拉曼從定性指紋識別升級為定量張量分析手段。
