什么是掃描電子顯微鏡（SEM）？
掃描電子顯微鏡（SEM）利用聚焦電子束掃描樣品表面，實現超高放大倍數（可達30萬倍以上）和立體感極強的3D成像，同時通過X射線能譜分析揭示元素成分。盡管成本高昂、操作復雜，SEM在法醫學、材料科學、半導體檢測等領域已成為不可或缺的工具，其工作原理類似“電子配鑰匙”，通過逐點掃描生成高分辨率圖像。
什么是角分辨偏振拉曼光譜？
角分辨偏振拉曼光譜（ARPR）通過連續記錄拉曼強度隨樣品旋轉角度的變化，實現對晶體對稱性、晶軸方向和層間扭轉角的定量解析。相比傳統偏振拉曼僅采集離散點，ARPR能完整擬合曲線，精準標定面內晶軸、無損測量二維異質結扭轉角，并歸屬低對稱聲子模式。該技術適用于黑磷、SnSe等各向異性材料，具備微區、無損、定量等優勢，但測試耗時且對光路校準要求高。作為從定性到定量的升級手段，ARPR正在成為二維材料研究中的標準表征方案。
什么是掃描電子顯微鏡（SEM）？
掃描電子顯微鏡（SEM）利用電子束掃描樣品表面，實現超高分辨率（30萬倍以上）和立體感成像，并能分析元素成分。盡管價格昂貴、操作復雜，但SEM已成為半導體檢測、生物研究等領域不可或缺的工具，從法醫破案到工業質檢，展現出光學顯微鏡無法替代的價值。
